Helios 5 DualBeam, Helios 5 ürün serisinin yüksek performanslı görüntüleme ve analiz performansına sahiptir. Malzeme Bilimi araştırmacıları ve mühendisleri için zorlu örnekler bile geniş bir FIB-SEM kullanımı ihtiyaçlarını karşılamak için tasarlanmıştır.

Helios 5 DualBeam, yüksek çözünürlüklü görüntüleme standartlarını yeniden tanımlar: malzeme kontrastı, S/TEM görüntüleme ve atom probu tomografisi (APT) için hızlı, kolay ve hassas yüksek kaliteli örnek hazırlama, yüzey alt ve 3D karakterize. Helios DualBeam serisinin uzun zamandır denenen performansına dayanarak, Helios 5 DualBeam, sistemin manuel veya otomatik bir iş akışında çalışmasını sağlamak için tasarlanmış iyileştirilmiş optimizasyonlardır.

Yarı iletken endüstrisinin teknik parametreleri:

Malzeme Bilimi Endüstrisinin Teknik Parametreleri:

Kullanımı daha kolay:

Helios 5, her deneyim seviyesindeki kullanıcılar için kullanımı kolay bir DualBeam sistemidir. Operatör eğitimi aylardan günlere kısaltılabilir ve sistem tasarımı tüm operatörlerin çeşitli uygulamalarda tutarlı ve tekrarlanabilir sonuçlar elde etmelerine yardımcı olur.

Verimliliği artırmak:

Helios 5 ve AutoTEM 5 yazılımlarının gelişmiş otomasyon özellikleri, güvenilirliği ve istikrarı, örnek hazırlama akışını önemli ölçüde arttıran insansız ve hatta gecelik çalışmaya olanak sağlar.

Zaman ve Sonuçları İyileştirmek:

Helios 5 DualBeam, ince görüntü ayarlama özelliği olan FLASH teknolojisini sunuyor. FLASH teknolojisi sayesinde, kullanıcı arayüzünde basit fare işlemleri yapmanız gerekir ve sistem “gerçek zamanlı” olarak görüntü dağılımı, lens merkezi ve görüntü odaklanmasını sağlar. Otomatik ayarlama, akışı, veri kalitesini önemli ölçüde artırabilir ve yüksek kaliteli görüntü alımını kolaylaştırır. Ortalama olarak, FLASH teknolojisi optimize edilmiş görüntüler elde etmek için gereken süreyi 10 kat kısaltabilir.