Thermo ScientificTM TalosTM F200X S/TEM, verimlilik, hassasiyet ve kullanım kolaylığını artırmak için çeşitli fonksiyonlarla donatılmış, hızlı ve hassas nanomalzemelerin çok ölçekli karakterizasyonu sağlayan, akademik, hükümet ve endüstri alanlarında araştırma ve analiz için ideal bir seçimdir.

Yüksek çözünürlüklü görüntüleme, yüksek kaliteli veri
Talos F200X S/TEM, mükemmel yüksek çözünürlüklü STEM ve TEM görüntüleme, enerji spektrometri (EDS) sinyal algılama ve bileşen yüzey analizine dayanan üç boyutlu kimyasal karakterize özelliklerini birleştirir. Thermo Scientific VeloxTM S/TEM kontrol yazılımı, akıllı tarama motoru, birden fazla STEM detektörüne dayanan çok kanallı birleştirme teknolojisi ve Diferensial Faz Kaplaması (DPC) görüntüleme teknolojisi ile S/TEM görüntüleme kalitesini önemli ölçüde iyileştiriyor ve elektromanyetik yapıları analiz edebilir ve hızlı ve doğru EDS veri işlemi ve miktarlı analizi gerçekleştirir.

X-FEG Yüksek Parlaklık Elektronik Silahları, standart Short Base alanına kadar beş kat parlaklık sağlarken küçük bir toplanma açısını koruyabilir. Kullanıcılar yüksek sinyal gürültü oranı ile STEM, EDS görüntü çözünürlüğü ve daha fazla yüksek çözünürlüklü TEM uygulaması elde edebilirler. X-FEG Yüksek Parlaklık Elektronik Silahının yüksek istikrarı ve uzun ömrü gibi özellikleri, daha yüksek görüntüleme verimliliğine sahiptir.

Daha geniş görüş alanı, daha hızlı

Talos Hızlı D/TEM Görüntüleme, yüksek çözünürlüklü ve in situ dinamik görüntülemeyi destekler. Thermo Scientific Ceta 16M TM kamerası, görüntü alım çözünürlüğünü saniyede 25 kareye kadar sağlayan daha geniş bir görüş alanına sahiptir ve aynı zamanda, piezoelektrik örnekleme masası, yüksek hassasiyet, sürüşmez görüntüleme ve tam örnek navigasyonunu sağlar, böylece zaman tasarrufu sağlar ve kullanıcıların daha fazla örnek veri almasına olanak sağlar.

Yanıtları daha hızlı almak için nanoölçekli analizi hızlandırın

Talos F200X S/TEM, SymerFly'in Super-XTM entegre EDS sistemini kullanarak, saniyede 105'e kadar enerji spektrumu toplayan son derece yüksek hassasiyetli dört silikon kayıp röntgen detektörü ile donatılmıştır. X-TWIN objektif entegrasyonu, X-ışını toplama verimliliğini arttırırken, verilen ışın akışında (hatta düşük güçlü EDS sinyallerinde) ideal çıkış sayım oranına ulaşır.

Araştırma daha kolay
Talos S/TEM, dijital kullanıcı arayüzü ve ergonomik tasarımı ile birçok bilim adamının görüntüleme ve analiz iş akışlarına erişimini sağlar. Hızlı görüntü toplama, kullanımı kolay bir işletim platformuyla birleştirildiğinde, deneyimsiz operatörler bile sonuçları hızlı bir şekilde toplayabilir. İnsan-makine ayrılması için uzaktan çalışma tasarımı, kullanım kolaylığı, konfor ve elektroskop istikrarını önemli ölçüde artırır. Ayrıca, çalışma verimliliğinin sürdürülmesini sağlamak için Talos S/TEM, önemli alet parametrelerini toplamak ve uzaktan teşhis ve desteği kolaylaştırmak için yeni bir cihaz durumu kaydı ve teşhis yazılımı ile donatılmıştır.

X-FEG'nin 亮度 1.8 × 109 A / cm2 srad (@ 200 kV)
Toplam elektron ışını akımı > 50 nA
Prob Akımı 1.5 nA @ 1 nm ışın (200 kV)
Super-X EDS Sistemi Simetrik tasarımlı SDD spektroskop probu, penceresiz tasarım, perde koruması
Enerji Çözünürlük ≤ 136 eV Mn-Kα @ 10 kcps (çıkış)
Hızlı EDS Yüzey Analizi 10 μs'ye kadar kısa piksel kalma süresi
STEM HAADF Çözünürlüğü 0.16 nm
EDX Düşük Açı 0.9 SRAD
TEM Bilgi Çözünürlüğü 0.12 nm
Zui Büyük Difraksiyon Açısı 24 ̊
Çift eğimli örnek çubuğunun zui büyük eğim açısı ± 35 ° α eğimi / ± 30 ° β eğimi
Örnek masası zui Büyük eğim açısı ± 90 Ö

Optik Özellikler: Sabit Güçlü A-TWIN Objektif
Kullanım kolaylığı: Çok kullanıcı ortamları için hızlı ve kolay kullanım anahtarı
Süper istikrarlı platform: sabit güçlü objektif, piezoelektrik örnek masası, güvenilir sistem gövdesi ve uzaktan çalışma istikrarı sağlar
SmartCam Kameraları: Dijital arama ve görüntüleme kameraları, tüm uygulamaların işleme gücünü önemli ölçüde artırır ve kullanıcıların karanlık odadan uzaktan çalışmalarını sağlar.
Tam entegre hızlı kamera: Ceta 16M piksel CMOS kamera, büyük bir görüş alanı ve yüksek okuma hızı sağlar (512 x 512'de 25 fps)
Kapsamlı uzaktan çalışma: Otomatik ışık açısı sistemi, Ceta kamerası ile birleştirilir ve kapsamlı uzaktan çalışmayı destekler
Zengin analiz özellikleri: Talos S/TEM, örnek bileşenlerinin analiz yeteneklerini iki boyutludan üç boyutla genişletmek için EDS üç boyutlu görüntüleme teknolojisini kullanır.